STM (Taramalı Tünelleme Mikroskobu) ve AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) arasındaki bazı farklar şunlardır: Çalışma Prensibi: STM, yüzeyde tünelleme elektronları ve piezoelektrik etki kullanarak görüntü oluşturur. AFM, bir prob ve yüzey arasındaki kuvveti ölçerek yüzeyi fiziksel olarak tarar. Örnek Gereksinimleri: STM, iletken örnekler gerektirir. AFM, yalıtkan ve iletken örneklerde kullanılabilir. Görüntüleme Yeteneği: STM, 2 boyutlu profil oluşturabilir. AFM, 3 boyutlu profil ve yüzey topografyası oluşturabilir. Kullanım Alanları: STM, malzeme kusurları, yüzey reaksiyonları ve sürtünme gibi alanlarda kullanılır. AFM, biyomalzemeler, biyomoleküller, hücreler ve dokular gibi biyolojik alanlarda da kullanılır. Maliyet: AFM, genellikle daha uygun fiyatlıdır. Çözünürlük: STM, atomik çözünürlükte görüntü sağlayabilir. AFM, genellikle birkaç nanometre çözünürlükte görüntü verir.