Yazeka
Arama sonuçlarına göre oluşturuldu
TEM (Transmission Electron Microscopy) ve SEM (Scanning Electron Microscopy) analizi arasındaki temel farklar şunlardır:
- Görüntü Oluşturma:
- Numunenin Yapısı:
- Numunenin Kalınlığı:
- Çözünürlük:
- Kullanım Alanı:
- SEM, yüzey analizi, tozlar, cilalanmış ve aşındırılmış mikro yapılar, IC yongaları ve kimyasal ayrışma için kullanılır 34.
- TEM, nanoteknoloji, yarı iletkenler, malzeme bilimi ve elektronik gibi alanlarda, özellikle dislokasyonlar, küçük çökeltiler, tane sınırları ve diğer kusur yapılarının görüntülenmesinde kullanılır 34.
5 kaynaktan alınan bilgiyle göre: