Yazeka
Arama sonuçlarına göre oluşturuldu
Ölçüm hataları iki ana kategoriye ayrılır:
- Sistematik hata: Ölçüm hatasının tekrarlanan ölçümlerde sabit kalan veya tahmin edilebilir şekilde değişen bileşenidir 23. Genellikle ölçüm cihazlarının kusurlu kalibrasyonundan veya gözlem yöntemlerindeki yanlışlıklardan kaynaklanır 4.
- Rastgele hata: Tekrarlanan ölçümlerde tahmin edilemez bir şekilde değişen ölçüm hatası bileşenidir 23. Ölçüm cihazlarının hassasiyet sınırları, deneysel koşulların değişkenliği ve insan faktörü gibi faktörlerden kaynaklanır 5.
5 kaynaktan alınan bilgiyle göre: