Yazeka
Arama sonuçlarına göre oluşturuldu
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), bir numunenin yüzeyini son derece ince bir iğne yardımıyla tarar ve prob ile numune arasındaki atomik kuvvetler, probun sapmasına neden olur 25.
AFM'nin çalışma prensibi şu şekilde özetlenebilir:
- Yüzeyi tarama 5. Çubuk benzeri düzenek ucundaki iğne, numune yüzeyine yaklaştığında, yüzey ve iğne arasındaki çekim kuvvetleri nedeniyle iğne sapar 5.
- Algılama 5. İğne yüzeye yaklaştıkça, itme kuvveti artar ve iğne yüzeyden dışarı doğru sapar 5.
- Görüntüleme 5. Lazer ışını yardımıyla, çubuğun yüzeye doğru veya yüzeyden uzağa olan sapmaları tespit edilir ve yüzeydeki konum bilgileri kayıt altına alınır 5.
5 kaynaktan alınan bilgiyle göre: