Yazeka
Arama sonuçlarına göre oluşturuldu
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) üç ana prensiple çalışır:
- Yüzeyin Taranması: AFM, numune yüzeyini taramak için ucunda keskin bir uç bulunan bir konsol kullanır 12.
- Kuvvet Ölçümü: Uç, numune yüzeyine yaklaştıkça, van der Waals kuvvetleri, elektrostatik kuvvetler ve manyetik kuvvetler gibi çeşitli kuvvetler devreye girer ve konsol bükülür 24.
- Geri Bildirim ve Görüntüleme: Konsolun bükülmesi, bir lazer ışınının konum duyarlı bir dedektöre yansımasıyla izlenir 24. Bu sayede, yüzey topografyası gerçek zamanlı olarak ve nanometre ölçeğinde çözünürlükte görüntülenir 24.
5 kaynaktan alınan bilgiyle göre: