STM ve AFM arasındaki fark nedir?
STM (Taramalı Tünelleme Mikroskobu) ve AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) arasındaki temel farklar şunlardır: 1. Çalışma Prensibi: - STM, kuantum tünelleme prensibiyle çalışır ve iletken bir uç ile iletken bir numune yüzeyi arasında elektronların tünellemesini ölçer. - AFM, keskin bir uç ile numune yüzeyi arasındaki kuvvetleri ölçer; bu kuvvetler arasında van der Waals, elektrostatik ve itme kuvvetleri bulunur. 2. Görüntüleme Çözünürlüğü: - STM, atomik çözünürlüğe ulaşır ve iletken malzemeleri incelemek için uygundur. - AFM, genellikle daha düşük çözünürlüğe sahiptir ancak iletken olmayan malzemeleri görüntülemede daha iyidir. 3. Numune Gereksinimleri: - STM, numunenin iletken olmasını gerektirir. - AFM, hem iletken hem de iletken olmayan yüzeylerle çalışabilir. 4. Çalışma Ortamı: - STM, ultra yüksek vakum koşulları gerektirir. - AFM, hava ve sıvı da dahil olmak üzere çeşitli ortamlarda çalışabilir. 5. Ek Özellikler: - STM, yüzeylerdeki elektronik durumların gerçek zamanlı görüntülenmesini sağlar ve durumların yoğunluğunu ölçebilir. - AFM, farklı modlarıyla topografyanın yanı sıra esneklik ve yapışma gibi mekanik özellikleri de karakterize edebilir.
STM ve AFM arasındaki fark nedir?