İki Noktalı Mikrometre Yöntemi: Bu yöntemde, bir bileşenin dış çapları çevresi etrafındaki birkaç noktadan ölçülür ve maksimum ve minimum çap farklarının ortalaması alınarak yuvarlaklık hesaplanır 1. Avantajları: taşınabilir ve kullanımı kolaydır 1. Dezavantajları: lokal sapmaları gözden kaçırabilir ve operatör bağımlıdır 1.

V-Blok ve Üç Nokta Yöntemleri: İş parçası V şeklindeki bir bloğa yerleştirilir ve döndürülür, bir komparatör ise radyal değişimleri kaydeder 1. Bu yöntem, loblu profiller gibi özel durumları tespit etmek için etkilidir 1.

Koordinat Ölçüm Makinesi (CMM): CMM, yüzey noktalarını toplamak için bir kalem kullanır ve bu noktaları bir daireye sığdırarak yuvarlaklık sapmalarını tespit eder 12. Avantajları: yüksek hassasiyet sunar 1. Dezavantajları: nokta yoğunluğu ve kalibrasyon gerektirir 1.

Pikap/Stylus Yuvarlaklık Test Cihazları: Parça bir iş mili üzerinde döndürülürken, bir kalem yüzeyi izler ve 360°'lik bir profil oluşturur 1. Bu cihazlar, yarım küre veya hassas silindirler gibi bileşenleri kalibre etmek için gereklidir 1.

Görüntü Tabanlı Ölçüm: Optik sistemler, bileşenin kenarlarının görüntülerini alır ve algoritmalar kullanarak yuvarlaklığı değerlendirir 1.