Yazeka
Arama sonuçlarına göre oluşturuldu
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) cihazı, numune yüzeyini taramak için bir çubuk benzeri düzenek ucundaki ince bir iğne kullanır 4. Bu iğne yüzeye yaklaştığında, yüzey ve iğne arasındaki çekim kuvvetleri çubuğun yüzeye doğru sapmasına neden olur 4. İğne yüzeye yaklaştıkça, itme kuvvetinde artış meydana gelir ve çubuk yüzeyden dışarı doğru sapar 4.
AFM cihazının çalışma aşamaları şu şekildedir:
- Algılama 4. Bir lazer ışını yardımıyla, yüzeye doğru veya yüzeyden uzağa doğru olan çubuk sapmaları tespit edilir 4.
- Görüntüleme 4. Lazer ışınındaki sapmalar yardımıyla, yüzeydeki konum bilgileri kayıt altına alınır ve nano yüzeyin haritası çıkartılır 4.
AFM, üç boyutlu bir yüzey görüntüsü üzerinde incelemeye olanak sağlamanın yanı sıra, yüzey pürüzlülüğü parametrelerini rakamsal olarak da verebilir 2.
AFM cihazının çalışma prensibi ve modları hakkında daha fazla bilgi için aşağıdaki kaynaklar kullanılabilir:
5 kaynaktan alınan bilgiyle göre: